Optische Messtechnik in der industriellen PAT-Anwendung

Vortragende

Dr. Tobias Eifert   Covestro Deutschland AG
Dr. Martin Gerlach Bayer AG
Prof. Dr. Bernhard Lendl Technische Universität Wien
Dr. habil. Michael Maiwald Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)       
Prof. Dr. Matthias Rädle Hochschule Mannheim
Dr. Thomas Schäfer Hochschule Mannheim
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