Funktionale Sicherheit in der Prozessindustrie - SIL-Berechnung leicht gemacht

19. März 2026
Frankfurt am Main
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Weiterbildung für Störfallbeauftragte und Immissionsschutzbeauftragte. Als Fortbildungsveranstaltung im Sinne des § 9 Abs. 1 der 5. BImSchV anerkannt

Die VDI/VDE Richtlinie 2180 konkretisiert die neuen internationalen Normen IEC 61508 und IEC 61511. Mit letzteren gewinnen Probabilistik und Deterministik stärkere Bedeutung in der Verfahrenstechnik und der Prozessleittechnik. Dem jeweils abzudeckenden Risiko werden Safety Integrety Levels (SIL) zugeordnet, die mit quantitativen Anforderungen bezüglich gefährlicher Fehler (PFD, λDU) verknüpft sind.

Für Feldgeräte (Sensoren, Aktoren) in Anlagen der Chemischen Industrie sind zuverlässige Fehlerraten wegen der unterschiedlichen Applikationen nur schwierig zu ermitteln.

Stördatenerfassung und Stördatenauswertung, die NAMUR-weit betrieben werden, helfen dabei. Bei Einsatz betriebsbewährter Geräte findet man in der VDI/VDE Richtlinie 2180 Musterrechnungen. Typicals für die Konfiguration einer PLT-Sicherheitseinrichtung (früher PLT-Schutzeinrichtung) und eine Standardgeräteliste runden das Bild ab.

Nutzt man diese Werkzeuge, so wird ein rechnerischer SIL-Nachweis leicht gemacht. Wie man all das in die Praxis umsetzt, wird in diesem Seminar durch Anwendungsbeispiele und in Gruppenarbeit vermittelt. Hierzu wird ein Smartphone benötigt.

Die Grundlagen zu dieser Thematik werden in dem DECHEMA-Weiterbildungskurs Funktionale Sicherheit in der Prozessindustrie: Grundlagen am 17./18.03.2026 vermittelt.

Desweiteren sei auf den SIL-Tag am 20.05.2026 verwiesen, bei dem Spezialthemen zu diesem Gebiet behandelt werden. Das Programm für den SIL-Tag 2026 ist in Vorbereitung.

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